第一章   電源完整性時(shí)域分析之示波器
第二章   電源完整性時(shí)域分析之測(cè)試探頭
第三章   電源完整性頻域分析之網(wǎng)絡(luò)分析儀
第四章   電源完整性仿真域之仿真軟件
第五章   電源完整性激勵(lì)域測(cè)試之碼型發(fā)生器
第六章   電源完整性測(cè)試之直流瞬態(tài)電壓及紋波噪聲模擬

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第六章 電源完整性測(cè)試之直流瞬態(tài)電壓及紋波噪聲模擬

如下圖所示，智能手機(jī)或筆記本電腦在待機(jī)或休眠狀態(tài)時(shí)，通常電流較?。╩A 級(jí)別），但處于工作狀態(tài)下，消耗電流會(huì)瞬間提升至安培（A）級(jí)別。這種高達(dá)上千倍的電流動(dòng)態(tài)會(huì)通常會(huì)導(dǎo)致供電電壓出現(xiàn)明顯的毛刺（幅度高達(dá)數(shù)十甚至數(shù)百 mV），造成處理器、存儲(chǔ)芯片等 IC 無(wú)法正常工作。

如何對(duì)電源在上述動(dòng)態(tài)電流的條件下輸出電壓瞬態(tài)特性，或者芯片設(shè)計(jì)時(shí)進(jìn)行 IC 對(duì)上述供電電壓瞬態(tài)的變化時(shí)的穩(wěn)定性進(jìn)行驗(yàn)證？

動(dòng)態(tài)負(fù)載模擬驗(yàn)證電源的瞬態(tài)特性 ：

瞬態(tài)響應(yīng)是衡量電源輸出穩(wěn)定性的重要指標(biāo)，通常由負(fù)載電流的快速變化引起，測(cè)試中可以用電子負(fù)載模擬負(fù)載電流的快速變化，電子負(fù)載的拉載電流斜率（A/us）、最低工作電壓、波形編輯的特性決定瞬態(tài)響應(yīng)測(cè)試的準(zhǔn)確性。

EL30000A 直流電子負(fù)載不僅具備了CC，CV，CR 和 CP 模式，它還配備了高端分析儀的功能。

可在前面板可輕松實(shí)現(xiàn)圖形化波形編輯，搭配自帶的示波器功能（Scope），記錄儀功能（DataLog）可對(duì)測(cè)試波形進(jìn)行監(jiān)測(cè)，其功率在 350W-600W 能快速實(shí)現(xiàn)電流動(dòng)態(tài)變化驗(yàn)證瞬態(tài)響應(yīng)。

EL30000 電子負(fù)載基本參數(shù)：

N6705C 直流電源分析儀是一款多功能儀表，內(nèi)置示波器 (200KSa/s)，數(shù)據(jù)記錄儀 (50KSa/s)，任意波形發(fā)生器， 搭配 N678x(SMU) 源表模塊或者 N679xA 電子負(fù)載模塊也可以用于模擬幅度從 uA 級(jí)至 A 級(jí)的大動(dòng)態(tài)負(fù)載電流 變化。N6705C 一體化機(jī)箱的設(shè)計(jì)和多功能性可以減小測(cè)試連接的復(fù)雜性，并實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試結(jié)果分析和記錄。

模擬瞬態(tài)變化的供電電壓驗(yàn)證 IC 穩(wěn)定性 ：

在設(shè)計(jì)階段異常波形造成的問(wèn)題往往需要修改設(shè)計(jì)后再次進(jìn)行驗(yàn)證，因此復(fù)現(xiàn)和重復(fù)異常波形對(duì)設(shè)計(jì)至關(guān)重要。N6705C 直流電源分析儀( 可選擇搭配 BV9200 APS 程控和分析軟件 ) 可實(shí)現(xiàn)常見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)波形、波形拼接序列、數(shù)學(xué)公式，波形文件導(dǎo)入等多種方式，支持任意波形的電壓或電流波形模擬。不僅用于模擬幅度從 uA 級(jí)至 A 級(jí)的大動(dòng)態(tài)負(fù)載電流波形，也可以模擬產(chǎn)生 us 至 s 級(jí)的脈沖瞬態(tài)電壓波形，并且支持高速，高精度的電壓及電流實(shí)時(shí)波形的測(cè)量，用于精確評(píng)估 PMU, PMIC, LDO 電源的瞬態(tài)性能和瞬態(tài)波形模擬，測(cè)試電路或 IC 在電壓瞬態(tài)時(shí)的可靠性。

典型配置

電源性能測(cè)試除了瞬態(tài)響應(yīng)外，效率測(cè)試也是衡量電源好壞的另外一個(gè)重要指標(biāo)，它包含在不同輸入電壓與不同負(fù)載條件下的組合測(cè)試，往往儀器連接和數(shù)據(jù)的處理需要花費(fèi)大量時(shí)間。BenchVue / Test Flow 軟件平臺(tái)，無(wú)需任何代碼編程經(jīng)驗(yàn)，就能快速、靈活地拖拽出自己的程序，從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試，可大幅提升工作效率。

參考資料：

Accuracy Improvements of PDN Impedance Measurements in the Low to Middle Frequency Range. DesignCon 2010. 2010.

Keysight E5061B 網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)資料。

《高速數(shù)字接口原理與測(cè)試指南》清華大學(xué)出版社，作者李凱( 是德科技資深技術(shù)專家 )

《現(xiàn)代示波器高級(jí)應(yīng)用：測(cè)試及使用技巧》清華大學(xué)出版社，作者 李凱( 是德科技資深技術(shù)專家 )

《高速數(shù)字接口與光電測(cè)試》清華大學(xué)出版社，作者 李凱( 是德科技資深技術(shù)專家 )

《ADS 高速電路信號(hào)完整性應(yīng)用實(shí)例》中國(guó)工信出版集團(tuán)，作者 蔣修國(guó) ( 是德科技資深技術(shù)專家 )

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