SpyGlass DFT ADV根據(jù)軟錯(cuò)誤產(chǎn)生的影響，計(jì)算ISO 26262單點(diǎn)故障指標(biāo)（SPFM）

RTL級(jí)或門級(jí)快速靜態(tài)分析可確保對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)度的影響最小

生成對(duì)SPFM產(chǎn)生負(fù)面影響的設(shè)計(jì)模塊和寄存器的有序列表，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)、高效的設(shè)計(jì)提升

使用IC Compiler II實(shí)現(xiàn)基于分析的變更并利用Formality進(jìn)行驗(yàn)證，確保最高效、最穩(wěn)健的設(shè)計(jì)變更

新思科技（Synopsys, Inc.，納斯達(dá)克股票市場(chǎng)代碼：SNPS）近日宣布，在其SpyGlass® DFT ADV工具中正式推出了新的軟錯(cuò)誤分析功能。這種分析功能生成的輸出，能夠直接指導(dǎo)高效的設(shè)計(jì)變更，從而以最低成本實(shí)現(xiàn)ISO 26262功能安全目標(biāo)指標(biāo)的提升。分析可以在RTL級(jí)或門級(jí)網(wǎng)表的設(shè)計(jì)流程早期執(zhí)行，從而最大限度地減少對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)度的影響。就算是規(guī)模最大的設(shè)計(jì)，分析也只需幾個(gè)小時(shí)。SpyGlass DFT ADV完全通過ISO 26262認(rèn)證，支持用于汽車設(shè)計(jì)。

由軟錯(cuò)誤引起的瞬態(tài)故障可能會(huì)導(dǎo)致安全關(guān)鍵電子設(shè)備運(yùn)行期間發(fā)生災(zāi)難性故障。ISO 26262功能安全標(biāo)準(zhǔn)所定義的SPFM中反映了避免此類故障發(fā)生的概率。標(biāo)準(zhǔn)中，針對(duì)每個(gè)定義的汽車安全等級(jí)，規(guī)定了必需的最低SPFM值。軟錯(cuò)誤的主要影響是寄存器狀態(tài)意外改變，因此提高設(shè)計(jì)的SPFM值的常用方法是使用容錯(cuò)寄存器，如使用三模冗余觸發(fā)器表決的方法。使用這類寄存器必須仔細(xì)挑選，以使面積代價(jià)最小化。
“解決軟錯(cuò)誤效應(yīng)是實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)必要功能安全級(jí)別的關(guān)鍵一環(huán)。通過SpyGlass DFT ADV提供的快速指標(biāo)分析和觸發(fā)器識(shí)別功能，我們能夠達(dá)到必需的ISO 26262 SPFM級(jí)別，同時(shí)滿足嚴(yán)格的面積成本限制和設(shè)計(jì)周轉(zhuǎn)時(shí)間目標(biāo)。”

Akio Hirata
松下技術(shù)與產(chǎn)品開發(fā)中心
總工程師

SpyGlass DFT ADV工具可在設(shè)計(jì)周期早期計(jì)算SPFM指標(biāo)?；谛盘?hào)概率傳播的獨(dú)特靜態(tài)分析方法可準(zhǔn)確地估算設(shè)計(jì)任何部分的SPFM指標(biāo)。通過利用此方法，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)有能力識(shí)別并有效解決SPFM熱點(diǎn)。在最低級(jí)別，根據(jù)每個(gè)觸發(fā)器對(duì)SPFM損耗的貢獻(xiàn)來(lái)生成設(shè)計(jì)的觸發(fā)器列表并對(duì)其排序。然后，可以輕松地確定，要達(dá)到期望的SPFM值，至少需要將多少常規(guī)觸發(fā)器替換為容錯(cuò)觸發(fā)器。確定具體數(shù)量后，即可根據(jù)基于所生成的最少列表在布局布線流程中執(zhí)行觸發(fā)器替換。將新思科技的Test Fusion技術(shù)與IC Compiler™II布局布線系統(tǒng)組合使用時(shí)，還可以無(wú)縫地實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的優(yōu)化，如確保添加的三模冗余觸發(fā)器之間留有最小觸發(fā)器間距，以避免發(fā)生多位翻轉(zhuǎn)事件。隨后可以使用Formality®等效性檢查功能來(lái)驗(yàn)證所有變更，以確保設(shè)計(jì)一致性?；蛘?，可以使用其他方法來(lái)管理導(dǎo)致SPFM總損耗的較大邏輯塊，如添加冗余模塊或添加安全監(jiān)視器。設(shè)計(jì)完成后，可以使用基于仿真的故障注入方法（如新思科技Z01X™功能安全保障解決方案提供的方法）來(lái)執(zhí)行最終的SPFM指標(biāo)驗(yàn)證。
“用戶越來(lái)越關(guān)注在設(shè)計(jì)中能否達(dá)到必要的功能安全級(jí)別。我們將繼續(xù)專注于提供相關(guān)解決方案，幫助用戶達(dá)到必要的安全指標(biāo)，同時(shí)將對(duì)其設(shè)計(jì)和整體開發(fā)進(jìn)度的影響降至最低。”

Steve Pateras
新思科技芯片設(shè)計(jì)事業(yè)部
營(yíng)銷高級(jí)總監(jiān)