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優(yōu)化Post-Silicon驗(yàn)證，這套現(xiàn)代化實(shí)驗(yàn)方法，安排！

2022-01-25 19:33:18·  來源：恩艾在您身邊  
　
硅后驗(yàn)證（Post-Silicon Validation）是當(dāng)今芯片測試領(lǐng)域的熱點(diǎn)，主要用來對已經(jīng)制造出的芯片進(jìn)行調(diào)試，其目的是為了定位一些在傳統(tǒng)的硅前驗(yàn)證階段（如仿真驗(yàn)證
硅后驗(yàn)證（Post-Silicon Validation）是當(dāng)今芯片測試領(lǐng)域的熱點(diǎn)，主要用來對已經(jīng)制造出的芯片進(jìn)行調(diào)試，其目的是為了定位一些在傳統(tǒng)的硅前驗(yàn)證階段（如仿真驗(yàn)證、形式驗(yàn)證、UVM等）沒有發(fā)現(xiàn)的錯誤以及一些芯片制造過程中引入的錯誤。隨著產(chǎn)品上市時間壓力的增加，半導(dǎo)體公司期望提高其Post-Silicon驗(yàn)證效率。
NI和合作伙伴孤波一直在利用現(xiàn)代化實(shí)驗(yàn)室方法幫助客戶提高Post-Silicon驗(yàn)證效率。相關(guān)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)都匯聚在今天要介紹的這份上下兩篇的白皮書里了。
《上篇·現(xiàn)代化實(shí)驗(yàn)室方法如何優(yōu)化Post-Silicon驗(yàn)證》
上篇請繼續(xù)往后看

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01、NPD過程中的Post-Silicon實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證
在Post-Silicon驗(yàn)證期間，工程師需要完成以下工作：
  • 對設(shè)計(jì)的真實(shí)參數(shù)性能進(jìn)行特性分析(充分量化)
  • 確保設(shè)計(jì)功能完全符合規(guī)格要求，并能在客戶的系統(tǒng)/應(yīng)用(如已知)中出色運(yùn)行
  • 測量設(shè)計(jì)余量，確定設(shè)計(jì)或其IP在未來可能復(fù)用的機(jī)會
  • 測試極限狀態(tài)下設(shè)計(jì)的性能，以真正了解其穩(wěn)健性
在新產(chǎn)品開發(fā)(NPD)的整個工程設(shè)計(jì)工作中，Post-Silicon實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證占了相當(dāng)大的一部分(有時占到了50%到60%)。它被認(rèn)為是在產(chǎn)品到達(dá)客戶手中之前發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷或弱點(diǎn)的最后機(jī)會。但由于設(shè)計(jì)或生產(chǎn)等上游工序的延誤，往往會壓縮分配給驗(yàn)證的時間。

圖1：作為發(fā)布到制造/發(fā)布到生產(chǎn)(RTM/RTP)之前的最后一步，實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證時間遭到了壓縮
沒能發(fā)現(xiàn)某個錯誤可能會導(dǎo)致嚴(yán)重的后果，而未能及時向客戶提供實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)可能會錯失重要的設(shè)計(jì)成果。NI和孤波公司與半導(dǎo)體公司合作，對其實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行創(chuàng)新和現(xiàn)代化改造，以期確保在這種時間壓力下仍能保障產(chǎn)品質(zhì)量
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