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第4代SiC MOSFET的應(yīng)用優(yōu)勢

2022-05-02 13:08:37·  來源:驅(qū)動視界  
 
電動汽車(EV)、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等為了提高便利性,電源的高電壓化和大容量化正在進(jìn)行中。然而,從保護(hù)地球環(huán)境的角度來看,提高便利性之外,減少電力

電動汽車(EV)、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等為了提高便利性,電源的高電壓化和大容量化正在進(jìn)行中。

然而,從保護(hù)地球環(huán)境的角度來看,提高便利性之外,減少電力轉(zhuǎn)換時的損失、有效地使用也變得越來越重要。因此,能夠進(jìn)行高頻動作、并且高電壓大容量能量損失少的 SiC功率半導(dǎo)體備受關(guān)注。

羅姆發(fā)布了第4代SiC MOSFET,是第3代SiC MOSFET的溝槽柵結(jié)構(gòu)進(jìn)一步演進(jìn),將導(dǎo)通電阻降低約40%,開關(guān)損失降低約50%。

在試驗(yàn)中,使用第4代SiC MOSFET,進(jìn)行了500V輸入7kW降壓型DC-DC轉(zhuǎn)換器的實(shí)機(jī)驗(yàn)證、EV 的800V輸入100kW的牽引逆變器的模擬行駛試驗(yàn)、以及Totem-pole PFC的實(shí)機(jī)評價,確認(rèn)了其有用性,特此報告。

1、序言

目前,電動汽車(EV)、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等應(yīng)用,電源的高電壓和大容量趨勢正在進(jìn)行(Figure 1)。

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Figure 1. 應(yīng)用例

理由是可以提高各個應(yīng)用的便利性。作為身邊例子的EV,如果推進(jìn)高電壓化(400V 和 800V)和大容量化(50kW-350kW),能實(shí)現(xiàn)續(xù)航距離的延長和快速充電時間的縮短,能大幅度提高人們生活的便利性。

然而,在世界范圍內(nèi),保護(hù)地球環(huán)境的努力正在加強(qiáng),單純地提高便利性是不會被全球市場所接受的。今后除了便利性的提高之外,減少能源損失、有效的使用也會變得越來越重要,因此應(yīng)該注意的點(diǎn)是電力轉(zhuǎn)換。

上述的應(yīng)用都是從電力系統(tǒng)、電池、太陽光發(fā)電系統(tǒng)等接受電力供給,轉(zhuǎn)換成最適合的電壓值并有效利用,但是在這個電力轉(zhuǎn)換時會發(fā)生能量損失。為了減少能量損失,提高電力轉(zhuǎn)換效率,現(xiàn)在備受矚目的是能夠進(jìn)行高頻動作,并且在高電壓、大容量下能量損失較少的SiC功率半導(dǎo)體。

這次羅姆發(fā)布了第4代 SiC MOSFET。進(jìn)一步進(jìn)化了已經(jīng)量產(chǎn)中的第3代SiC MOSFET確立的溝槽柵結(jié)構(gòu),比第3代降低了約40%的導(dǎo)通電阻,由于高速切換特性造成的開關(guān)損失也減少了約50%。Figure 2所示的標(biāo)準(zhǔn)化導(dǎo)通電阻(Ron-A:每單位面積導(dǎo)通電阻)的趨勢顯示了它的進(jìn)化。

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Figure 2. 導(dǎo)通電阻的趨勢圖

本文第2章中,說明作為基本的降壓型DC-DC轉(zhuǎn)換器中第4代SiC MOSFET對轉(zhuǎn)換器效率改善有怎樣的貢獻(xiàn)。

說明開關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、體二極管損耗、恢復(fù)損耗等發(fā)生機(jī)制,說明在轉(zhuǎn)換器中使用優(yōu)秀的第4代SiC MOSFET時降低損耗的效果。 

在第3章中,作為具體的應(yīng)用例,說明面向EV的功率解決方案,EV的電力轉(zhuǎn)換由OBC(On Board Charger)、輔助用絕緣DC-DC、升壓 DC-DC、牽引逆變器等構(gòu)成。

特別是,關(guān)于牽引逆變器,導(dǎo)入馬達(dá)測試臺進(jìn)行模擬行駛試驗(yàn),以說明第4代SiC MOSFET的特性如何與用戶利益相關(guān)聯(lián)。另外,對于構(gòu)成OBC的Totem-pole PFC,也將在實(shí)際電路板上說明第4代SiCMOSFET對于轉(zhuǎn)換器特性的提升。

2、降壓型 DC-DC 轉(zhuǎn)換器中第4代 SiC MOSFET

2.1 電路動作原理與損耗解析

對于第3代、第4代SiC MOSFET的開關(guān)速度特別有改善。這對減少開關(guān)損耗有很大貢獻(xiàn)。Figure 3(a)中表示降壓型轉(zhuǎn)換器的框圖,(b)中表示轉(zhuǎn)換器的開關(guān)整體的外觀波形。

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(a) 降壓型 DC-DC 轉(zhuǎn)換器模塊圖

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(b)主要開關(guān)外觀波形

Figure 3. 降壓型 DC-DC 轉(zhuǎn)換器(半橋)

如 Figure 3(b)所示,轉(zhuǎn)換器中功率器件的損耗包括開關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、體二極管損耗、恢復(fù)損耗、Coss 損耗。(Coss 損失較小,故圖中未標(biāo)注出來) 

關(guān)于開關(guān)損耗,通常是把單個脈沖的Eon、Eoff能量數(shù)據(jù)記載在Datesheet中,因此在初期設(shè)計階段進(jìn)行粗略的損失估計時是很方便的指標(biāo)。在詳細(xì)設(shè)計中,必須嚴(yán)格算出高電壓輸入時高頻時的損耗。

柵極電壓值、柵極驅(qū)動器的漏源電阻值、外置柵極電阻值等數(shù)Ω的值會在數(shù)ns(納秒)的級別上影響開關(guān)時間(Trise/Tfall),使損耗發(fā)生了很大的變化,因此進(jìn)行該柵極驅(qū)動器的最佳設(shè)計與能否充分利用SiC的高速開關(guān)特性緊密相連。開關(guān)損耗僅發(fā)生在高邊 FET(SH)上,以公式(1)表示。下面對其機(jī)制進(jìn)行說明。

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在State 1中,柵極電壓VGS被施加到高側(cè)FET(SH)的SiC MOSFET上,并在State 2 中超過閾值 VGS(th)時,電感器電流開始快速流向SH的通道,直至VGS(on)(Plato 電壓)為止,僅幾ns即可到達(dá)負(fù)載電流 Io。

然后,在State 3(平臺期間)之間通道打開,VDS達(dá)到0V。該State 2和State 3的期間為式(2)所示的導(dǎo)通時的開關(guān)時間Trise。式(2)中,State 2的電荷量由于通常 Datessheet中沒有記載,所以從Qgs推定,通過設(shè)定系數(shù)k調(diào)整(通常k是 1/3-1/4)。

柵極電流Igon是由柵極驅(qū)動器電壓VGS和柵極導(dǎo)通電壓VGS(on)的電位差和介入其中的電阻部分決定的,所以用式(3)給出。公式中,Rsrc是柵極驅(qū)動器的源電阻,Rgext 為外置柵極電阻、Rgint 表示SiC MOSFET內(nèi)部柵極電阻。

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(State 4 在后面進(jìn)行說明)

柵極電壓降低,進(jìn)入關(guān)斷狀態(tài)(State 5-6)。這個Tfall期間用公式(4)表示。注意點(diǎn)是Tfall時段的柵極電流Igoff如式(5)所示,分子只有VGS(on)。一般來說,關(guān)斷時間會更長一些。式中,Rsnk是同步電阻。

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當(dāng)是電感負(fù)載那樣的恒流源時,電流波形ID和電壓波形VDS變化的時間不重疊,因此式(1)的開關(guān)損耗Psw的系數(shù)為 1/2。另外,在該Trise期間,由于漏源極間容量CossH 中儲存的電荷在溝道處短路,會產(chǎn)生充放電損耗PcossH(式(6))。

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在State 4中高邊FET(SH)完全開啟的期間發(fā)生導(dǎo)通損失PcondH(式(7))。此時的有效電流,時比D(=Vo/Vin)通過公式(8)給出。

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以上是高邊FET(SH)處產(chǎn)生的開關(guān)損耗、導(dǎo)通損耗、Coss 損耗。

以下是、低邊FET(SL)處產(chǎn)生的損耗。

State 7、State 11以及State 1是死區(qū)時間期間。低邊FET(SL)的體二極管的導(dǎo)通電流會產(chǎn)生損耗(式(9)。

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State 8-10產(chǎn)生低邊FET(SL)的導(dǎo)通損耗(式(10))。此時,實(shí)效電流通過公式(11)給出。

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低邊FET(SL)的Coss的充放電損耗,在SL Turn on時(State 8)Coss已經(jīng)被電感電流IL已經(jīng)放電,為ZVS狀態(tài)(Zero Voltage Switching),因此通常忽略。

以上是低邊FET(SL)處產(chǎn)生的損耗。

在此說明恢復(fù)損耗PQrr。發(fā)生的時間是State 3,是由于低邊SL的體二極管的恢復(fù)引起的損耗(式(12))。這個損耗由高邊FET(SH)和低邊 FET(SL)分擔(dān),為了方便此處合并到高邊。

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綜上所述,高邊FET(SH)和低邊FET(SL)的綜合損耗分別由式(13)和式(14)給出。

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特別是關(guān)于開關(guān)損耗Psw,根據(jù)式(2)和(4),Qgd(對柵極-漏極間電容的米勒平臺充電所需的電荷量)越小,Trise/Tfall的時間越短,式(1)的開關(guān)損耗Psw被降低。第4代SiC MOSFET相對于第3代Qgd降低了約一半,因此可以減少開關(guān)損耗。對轉(zhuǎn)換器的開關(guān)頻率高頻化,負(fù)載變化率大,平均來說輕負(fù)載運(yùn)轉(zhuǎn)較多的EV有降低損耗的效果。結(jié)果導(dǎo)致續(xù)航距離的延長和運(yùn)行成本的降低,這是使用第4代SiC MOSFET的最大優(yōu)點(diǎn)。

2.2 DC-DC 轉(zhuǎn)換器的實(shí)機(jī)驗(yàn)證

為了確認(rèn)這點(diǎn),我們組成下述規(guī)格的降圧型DC-DC轉(zhuǎn)換器進(jìn)行了實(shí)機(jī)驗(yàn)證。Table 1是 DC-DC轉(zhuǎn)換器和SiC器件的各項(xiàng)參數(shù)。用于調(diào)整開關(guān)速度的外置柵極電阻Rg_ext的數(shù)值在權(quán)衡了高速開關(guān)、振鈴以及尖峰之后,取值為3.3Ω。Figure 4 是 (a) DC-DC轉(zhuǎn)換器電路和 (b)半橋部分所用的第4世代SiC MOSFET的評估板(內(nèi)置去偶電容),電感L、輸出電容Co 和輸入Bulk電容為外置。

Table 1. DC-DC 轉(zhuǎn)換器規(guī)格、SiC 器件各項(xiàng)規(guī)格

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Figure 4. 實(shí)機(jī)驗(yàn)證用降圧型 DC-DC 轉(zhuǎn)換器電路和第 4 世代 SiC MOSFET 評估板

Figure 5是50kHz情況下的Turn on時/Turn off時的VGS、VDS, ID波形。

左側(cè)是Turn on時的波形放大。波形可觀測到Turn on時上升時間Trise約20ns,非常的高速。Figure 6是該DC-DC轉(zhuǎn)換器的效率、損耗的測定結(jié)果。輕負(fù)載(1kW 附近)時,作為固定損耗的開關(guān)損耗,由于第4世代SiC MOSFET開關(guān)損耗較小的特征,發(fā)揮了顯著的作用。而重負(fù)載(5kW 附近)時,第4世代相對于第3世代損耗也改善了15W以上。

Figure 7是轉(zhuǎn)換器損耗的詳細(xì)理論解析結(jié)果,這證明了損耗確實(shí)有大約15W的改善。而且,高邊FET(SH)的開關(guān)損耗和恢復(fù)損耗PQrr也大幅降低,這也有助于改善整體損耗。

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Figure 5. 實(shí)測開關(guān)波形(500Vin, 250Vo/20A(5kW), 50kHz)

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Figure 6. 效率、損耗的測定結(jié)果(500Vin, 250Vo/7kW, 50kHz)

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Figure 7. 損耗分析結(jié)果(計算值)(左:2kW、右:5kW)

3、EV 應(yīng)用

EV也有多種形態(tài),如Figure 8所示,有BEV、HEV、PHEV、Series HEV等,根據(jù)彼此的用途,功率、體系結(jié)構(gòu)各有不同。在這當(dāng)中,最近受到關(guān)注的是BEV的雙方向/急速充電中的400V電池電圧型或800V電池電壓型。

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Figure 8. 各種 EV 形態(tài)

Figure 9所示的是BEV的功率/體系結(jié)構(gòu)的電路結(jié)構(gòu)示例。對于OBC(On Board Charger)和V2G(Vehicle To Grid)來說,雙方向Totem-pole PFC和雙方向CLLC(對稱型 LLC)是熱門的電路拓?fù)洹T揙BC的輸出會用于供應(yīng)輔助用DC-DC轉(zhuǎn)換器、電池、逆變器電圧升圧、以及主機(jī)牽引逆變器的供電。

3.1 章說明的是牽引逆變器的基本動作,以及EV的評價系統(tǒng)(電機(jī)試驗(yàn)臺的試驗(yàn)環(huán)境)。以此可以根據(jù)乘用車的油耗測試方法WTLC來進(jìn)行模擬行駛仿真,以此來介紹第4世代SiC MOSFE可帶來的電費(fèi)改善度。

3.2 章介紹的是在OBC雙方向Totem-polePFC 中使用了第4世代SiC MOSFET情況下的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。

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Figure 9. BEV 功率?體系結(jié)構(gòu)舉例

3.1 牽引逆變器的模擬行車試驗(yàn)

 [1] 逆變器電路動作

隨著機(jī)電一體化(電機(jī)、減速機(jī)、逆變器)的推進(jìn),為實(shí)現(xiàn)高電壓/高輸出且小型化的輕量逆變器,低損耗的重要度日益上升。這是因?yàn)檫@與EV的耗電能力有直接關(guān)系。

如 Figure 10所示,牽引逆變器為了驅(qū)動動力總成內(nèi)的電機(jī),將電池中儲備的直流電力轉(zhuǎn)變?yōu)?相交流電力。逆變器由三個半橋結(jié)構(gòu)(1 leg),即3 leg來構(gòu)成。三相交流波形由頻率與電機(jī)轉(zhuǎn)速同步的信號波(參考正弦波)設(shè)定,三角波(調(diào)制波)由決定開關(guān)頻率的載波頻率設(shè)定。電機(jī)的供電電壓是通過在產(chǎn)生PWM信號時改變?nèi)嘟涣麟姾腿遣ǖ碾娖絹韺?shí)現(xiàn)的。

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Figure 10. 一般的逆變器電路結(jié)構(gòu)和驅(qū)動信號

[2] 電機(jī)試驗(yàn)臺試驗(yàn)環(huán)境

Table 2所示的是電機(jī)試驗(yàn)臺和測試用逆變器所搭載的SiC器件的主要參數(shù)。測試用逆變器使用了2in1功率模塊,該模塊搭載了第4世代SiC MOSFET晶圓芯片。

Figure 11所示的是電機(jī)試驗(yàn)臺的試驗(yàn)環(huán)境,F(xiàn)igure 12所示的是測試用逆變器(DUT Inverter),F(xiàn)igure 13所示的是控制系統(tǒng)模塊圖。測試用逆變器通過3相UVW動力線來驅(qū)動測試電機(jī)。測試電機(jī)與負(fù)載電機(jī)相連接,負(fù)載電機(jī)根據(jù)車輛參數(shù)演算得出行駛阻力控制負(fù)載轉(zhuǎn)矩,從而實(shí)現(xiàn)所希望的車輛參數(shù)條件下的模擬行駛實(shí)驗(yàn)。這里正如Figure 14 以及式(15)-(18)所示,行駛阻力包含空氣阻力FAD、轉(zhuǎn)動阻力FRR、梯度阻力FRG、加速阻力FACC。

Table 2. 電機(jī)試驗(yàn)臺和試用逆變器的主要參數(shù)

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Figure 11. 電機(jī)試驗(yàn)臺試驗(yàn)環(huán)境

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Figure 12. 試用逆變器(DUT Inverter)

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Figure 13. 電機(jī)試驗(yàn)臺?控制系統(tǒng)模塊圖

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Figure 14. 行車阻力

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Cd:空氣阻力系數(shù) , A:正面投影面積 , ρ: 干燥空氣密度, v:車速, μ:滾動阻力系數(shù) , m:車身重量, Δm:旋轉(zhuǎn)身體的等價慣 性質(zhì)量, α:加速度, g:重力加速度, θ:車輛和路面的夾角。

[3] 模擬駕駛的國際規(guī)格 WLTC 模式燃效測試

Figure 15所示的 WLTC (Worldwide harmonized Light duty driving Test Cycle,全球統(tǒng)一輕型車輛測試循環(huán))是由聯(lián)合國歐洲經(jīng)濟(jì)委員會在 2014 年召開的第 162 屆世界汽車標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào)論壇(WP29)上公布的世界統(tǒng)一技術(shù)規(guī)則 GTR(Global Technical Regulation)所采納的轎車等的排放氣體、燃料消耗量測試法(WLTP: Worldwide harmonized Light vehicles Test Procedure)中規(guī)定的駕駛循環(huán)。

這個循環(huán)由Low、Middle、High、Extra-High速度階段構(gòu)成,在日本除了Extra-High 階段以外,測試車輛通過行駛循環(huán)進(jìn)行排放氣體和油耗的測量。

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Figure 15. WLTC(全球統(tǒng)一輕型車輛測試循環(huán))的概要

羅姆使用前述的馬達(dá)測試臺,通過輸入WLTC行駛循環(huán)的模擬行駛試驗(yàn)條件,對逆變器進(jìn)行了采用第四代SiC MOSFET和IGBT時的行駛電費(fèi)試驗(yàn)。

假設(shè)C級EV的電費(fèi)試驗(yàn)結(jié)果如Figure 16所示。在 WLTC行駛循環(huán)的全速度階段,都可通過用第四代SiC-MOSFET代替?zhèn)鹘y(tǒng)的IGBT來改善電費(fèi)??傠娰M(fèi)與IGBT相比約改善6%,市區(qū)模式約改善10%。 

作為參考,在Figure 17顯示了逆變器效率Map圖 (以NT 曲線為基礎(chǔ)加入了效率的信息)。從這個結(jié)果也可以看出,在市區(qū)行駛中頻繁出現(xiàn)的高扭矩、低轉(zhuǎn)速區(qū)域的效率大幅改善。

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Figure 16. 電費(fèi)試驗(yàn)結(jié)果

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Figure 17. WLTC 燃效測試中的逆變器效率圖

下面展示電費(fèi)測試中6%-10%的性能提升如何為用戶帶來收益。用相對于行駛距離的運(yùn)行成本(電費(fèi))和搭載電池容量的削減來考慮的話就容易理解了。如Table 3所示,與IGBT 相比,電費(fèi)改善5.5%,行駛1萬公里時減少2000日元,搭載100kwh電池的車輛減少 5.5萬日元(Figure 18)。

Table 3. 電費(fèi)改善與用戶利益

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Figure 18. 電池削減效果

3.2 Totem-pole PFC 的實(shí)機(jī)評估

Totem-pole PFC作為一種以高效率為目標(biāo)的PFC轉(zhuǎn)換器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),近年來備受關(guān)注。另外,為了實(shí)現(xiàn)微電網(wǎng)系統(tǒng)的穩(wěn)定化和供需平衡,V2G的研究在世界范圍內(nèi)得到推進(jìn),雙向運(yùn)行也變得重要起來。

Figure 19是電路框圖。左區(qū)域(S1, S2)用于高頻開關(guān),右區(qū)域(S3, S4)用于商用頻率(低頻)整流。S3和S4采用同步整流FET,可實(shí)現(xiàn)V2G的雙向工作。

Figure 20為各狀態(tài)的工作圖。圖騰柱低邊FET (S2) 在商用交流電的正半周期期間作為升壓轉(zhuǎn)換器執(zhí)行高頻開關(guān)(圖 (a):周期D)。此時,S1進(jìn)行整流操作(圖(B):周期 1-D),但如果體二極管的恢復(fù)速度緩慢,則會出現(xiàn)較大的功率損耗。

SiC MOSFET由于體二極管恢復(fù)速度得非???,受這種功率損耗的影響較小,非常適合作為圖騰柱PFC的功率器件。接下來,在商用交流電的負(fù)半周,圖騰柱高邊場效應(yīng)管(S1)作為升壓轉(zhuǎn)換器進(jìn)行高頻開關(guān)(圖(C):周期 D),S2進(jìn)行整流(圖(D) : 時期 1-). D). S3和S4在商用交流電每半個周期切換一次。

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Figure 19. Totem-pole PFC 框圖

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Figure 20. 各狀態(tài)工作圖 

為了驗(yàn)證第四代SiC MOSFET對降低Totem-pole PFC的損耗所做的貢獻(xiàn),使用實(shí) Demo進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)。Table4中為PFC的評價條件和使用的SiC器件的規(guī)格。當(dāng)輸出電壓為 400V時,與750V耐壓的SiC MOSFET匹配。這里使用SCT4045DR。在Figure 21為 Demo的開關(guān)波形。在20ns-30ns的非常短的時間內(nèi)turn on/off。Figure 22所示的效率的檢測結(jié)果,半載的1.5kW 實(shí)現(xiàn) 98%以上,全載的3kW實(shí)現(xiàn)97.6%的高效率。

Table 4. PFC 評估條件

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Figure 21. 開關(guān)波形

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Figure 22. 實(shí)測效率

4、總結(jié)

SiC 功率半導(dǎo)體是在 EV、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等高電壓、大容量的應(yīng)用中,在提高便利性的同時,提高功率轉(zhuǎn)換效率的關(guān)鍵功率設(shè)備。

第4代SiC MOSFET大幅改善了溝槽結(jié)構(gòu)的性能,歸一化導(dǎo)通電阻也更小。活用這些得到的高速開關(guān)性能,低導(dǎo)通電阻對功率轉(zhuǎn)換效率的提高有很大的貢獻(xiàn)。

本手冊記載的使用1200V/36mΩ的SiC分立元器件的500V輸入7kW輸出的降壓型DC-DC轉(zhuǎn)換器的實(shí)機(jī)驗(yàn)證,使用1200V/400A的SiC功率模塊的EV的800V輸入100kW的主牽引逆變器的模擬行駛試驗(yàn),以及使用750V/45mΩ的SiC分立元器件的Totem-pole PFC的實(shí)機(jī)評估,均顯示了它的有用性。可以期待它有助于提高世界上許多應(yīng)用中的功率轉(zhuǎn)換效率。

最后,介紹一下本次發(fā)布的750V和1200V第4代SiC MOSFET產(chǎn)品線。

Table 5 第4代 SiC MOSFET 產(chǎn)品 Line up 表

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參考資料:ROHM SEMIConDUCTOR Application Note。

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