泰克科技（中國(guó)）有限公司正式推出泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室V2.0！作為北京先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的領(lǐng)軍者，我們的實(shí)驗(yàn)室經(jīng)過(guò)全面升級(jí)，現(xiàn)已在京揭幕。此次升級(jí)不僅是技術(shù)解決方案的飛躍，更是對(duì)創(chuàng)新精神的一次深刻體現(xiàn)，旨在擴(kuò)展全面的測(cè)試能力，提供一站式解決方案，打造一個(gè)開(kāi)放、協(xié)作、共贏的生態(tài)平臺(tái)，攜手用戶(hù)共同應(yīng)對(duì)新技術(shù)測(cè)試的挑戰(zhàn)。

實(shí)驗(yàn)室升級(jí)亮點(diǎn)

設(shè)備更新：新增GaN器件開(kāi)關(guān)測(cè)試、SiC功率器件的短路測(cè)試、雪崩測(cè)試及更全面的靜態(tài)參數(shù)和電容參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)。

創(chuàng)新測(cè)試系統(tǒng)：引入全新面向第三代半導(dǎo)體功率器件的可靠性測(cè)試系統(tǒng)，滿足日益增長(zhǎng)的測(cè)試需求。

本地化服務(wù)：自2022年成立以來(lái)，已為超過(guò)300人次提供測(cè)試服務(wù)，測(cè)試器件種類(lèi)超過(guò)1000種，是國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的三代半導(dǎo)體功率器件測(cè)試平臺(tái)。

此次揭幕儀式得到了行業(yè)內(nèi)外的廣泛關(guān)注和支持。泰克科技中國(guó)區(qū)分銷(xiāo)業(yè)務(wù)總經(jīng)理宋磊為本次盛會(huì)做了開(kāi)幕致辭，第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟副秘書(shū)長(zhǎng)高偉博士，中關(guān)村天合寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟副秘書(shū)長(zhǎng)侯喜峰，國(guó)家新能源汽車(chē)創(chuàng)新中心功率測(cè)試平臺(tái)負(fù)責(zé)人郭大銘，以及泰克科技技術(shù)總監(jiān)張欣也在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行了精彩分享。泰克的合作伙伴飛仕德、眾力為、歐菲特等展示了與泰克在第三代半導(dǎo)體應(yīng)用上的合作成果。

預(yù)約實(shí)測(cè)

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測(cè)試系統(tǒng)介紹

DPT1000A動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

■ 功能與特點(diǎn)：DPT1000A具備高測(cè)試帶寬、低寄生參數(shù)和高兼容性，能夠完成包括開(kāi)關(guān)參數(shù)、反向恢復(fù)、雪崩測(cè)試和短路測(cè)試等在內(nèi)的多種動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試。

■ 適用范圍：支持Si MOSFET、IGBT、PMOS、SiC、GaN等多種功率器件的動(dòng)態(tài)特性表征，適配多種測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，廣泛應(yīng)用于新一代功率器件的研發(fā)和驗(yàn)證。

SPT1000A靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

■ 功能與特點(diǎn)：SPT1000A系統(tǒng)搭載業(yè)界領(lǐng)先的源表（SMU）和精密LCR表，能夠在高壓、大電流條件下實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量和參數(shù)分析。系統(tǒng)具有漏電流測(cè)試分辨率高、寄生電容測(cè)量精度高的優(yōu)勢(shì)。

■ 適用范圍：適用于各類(lèi)分立器件的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試，包括二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管等，特別是新型功率半導(dǎo)體器件如碳化硅、氮化鎵等的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。

HTXB-1000B動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試系統(tǒng)

■ 功能與特點(diǎn)：HTXB-1000B系統(tǒng)針對(duì)三代半導(dǎo)體功率器件設(shè)計(jì)，依據(jù)AQG-324標(biāo)準(zhǔn)，通過(guò)加速老化條件下的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)壓力測(cè)試，評(píng)估器件的老化特性和工作壽命。

■ 適用范圍：幫助器件生產(chǎn)廠商和用戶(hù)在較短時(shí)間內(nèi)了解功率器件的老化特性，預(yù)判和分析在實(shí)際應(yīng)用中可能出現(xiàn)的故障，提升產(chǎn)品可靠性。

DHTOL-1000B功率器件工況老化測(cè)試平臺(tái)

■ 功能與特點(diǎn)：DHTOL-1000B采用高溫操作壽命（HTOL）測(cè)試方法，模擬器件在實(shí)際工作環(huán)境下的老化過(guò)程，通過(guò)硬開(kāi)關(guān)測(cè)試有效預(yù)測(cè)器件的預(yù)期壽命。

■ 適用范圍：為SiC和GaN等第三代半導(dǎo)體功率器件的可靠性評(píng)估提供科學(xué)依據(jù)，幫助設(shè)計(jì)者深入理解器件在預(yù)期壽命周期內(nèi)的性能表現(xiàn)，制定更精準(zhǔn)的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和優(yōu)化決策。