如今，光器件正朝著更小、更精細(xì)的方向發(fā)展，內(nèi)部結(jié)構(gòu)日益精細(xì)，元件結(jié)構(gòu)間隔以毫米甚至微米計(jì)。這迫切需要一種更短距離、更高精度的測量方法。

橫河公司最新力作——AQ7420高分辨率反射儀應(yīng)運(yùn)而生！它不僅能滿足當(dāng)今通信系統(tǒng)中光器件體積小、損耗低的要求，還能深入剖析其內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)，助力失效分析、優(yōu)化設(shè)計(jì)和工藝改善。

本文將結(jié)合不同的測試需求以及設(shè)備特點(diǎn)為您進(jìn)一步介紹這款新品的優(yōu)勢。

OLCR，即低相干光學(xué)反射儀，利用光的干涉特性進(jìn)行測量，高分辨率、高動態(tài)范圍是其顯著特點(diǎn)。其結(jié)構(gòu)較為簡單，理論分辨率由光源相干長度決定，測量精度可達(dá)到微米級，正適合小尺寸集成光器件的高分辨率測量。

OLCR的核心是低相干長度的光源和邁克爾遜干涉儀，設(shè)備通過利用器件內(nèi)部反射信號與原始信號對器件進(jìn)行干涉掃描。因?yàn)樵O(shè)備采用了低相干光源，且相干時(shí)間很短，所以參考光只能與相干長度內(nèi)的反射光發(fā)生干涉，故而能使測量達(dá)到很高的分辨率。

相比OFDR類反射儀，OLCR技術(shù)更加穩(wěn)定可靠。OFDR依賴內(nèi)部的掃頻激光器，但由于激光器的頻率線性控制難度較大、對激光器性能和狀態(tài)要求極高且信號處理復(fù)雜，因此使用OFDR測試將相對不穩(wěn)定。

圖1展示了兩種測試結(jié)果的對比。在實(shí)操過程中，使用OFDR技術(shù)（TD-OCT或FD-OCT）的產(chǎn)品其精確度往往不盡如人意，這是因?yàn)槠錅y試結(jié)果往往會在不應(yīng)該產(chǎn)生背向反射的區(qū)域出現(xiàn)反射峰，即雜散噪聲(鬼影)，此類雜散噪聲的出現(xiàn)會顯著影響分析的準(zhǔn)確性。

圖1：常規(guī)波形與AQ7420波形在

雜散噪聲下的測試對比圖

而AQ7420采用OLCR技術(shù)，測量過程更簡潔、結(jié)果更穩(wěn)定。AQ7420不僅能顯著降低可能導(dǎo)致錯誤分析的雜散噪聲，而且能夠有效提升內(nèi)部測試效果的可視化質(zhì)量，降低用戶的誤判風(fēng)險(xiǎn)。此外，AQ7420還能以小于40μm的空間分辨率分離反射點(diǎn)，并以1μm的采樣分辨率可視化光學(xué)元件內(nèi)部的狀態(tài)。

當(dāng)使用衰減法測試光連接器時(shí)，工程師們通常使用1310nm和1550nm兩個(gè)波長測量背向反射和插入損耗。

傳統(tǒng)的OFDR僅配備一種激光波長，因此用戶不僅需要準(zhǔn)備兩個(gè)OFDR，而且還需要花費(fèi)時(shí)間精力更換設(shè)備和待測器件。

而AQ7420可內(nèi)置兩個(gè)光源，用戶無需改變連接器即可測量，大大簡化了雙波長測試流程。

AQ7420以可視化為突破口，精準(zhǔn)捕捉光器件制造中的微裂紋缺陷，確保產(chǎn)品質(zhì)量。

在光器件制造中，可能會存在無法被標(biāo)準(zhǔn)檢查發(fā)現(xiàn)的“微裂紋”缺陷，這種“漏網(wǎng)之魚”將會在光網(wǎng)絡(luò)安裝后因環(huán)境變化而“原形畢露”，最終導(dǎo)致光纖斷裂，引發(fā)光網(wǎng)絡(luò)的嚴(yán)重故障。

面對這一潛藏的“高危份子”，AQ7420高分辨率反射儀以可視化為突破口，通過在制造階段隨時(shí)檢查內(nèi)部結(jié)構(gòu)情況，便于用戶跟蹤監(jiān)測微裂紋細(xì)節(jié)，是檢測高質(zhì)量光學(xué)連接器的殺手锏。

在如圖2所示，AQ7420可以高精度檢測光連接器內(nèi)部反射的數(shù)量和位置，還能顯示衰減測量法難以獲取的光連接器內(nèi)部的微小裂紋和應(yīng)力情況。

通信、傳輸業(yè)務(wù)的不斷發(fā)展促使著人們對傳輸速率提出了更高的要求。AQ7420關(guān)鍵參數(shù)亮眼：測量長度100mm，采樣分辨率1μm，空間分辨率<40μm，雜散噪聲-100dB。它輕松應(yīng)對光器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)測試挑戰(zhàn)，促進(jìn)研發(fā)應(yīng)用。

測量長度: 100mm

用戶可通過AQ7420距離調(diào)整器，自由改變測試目標(biāo)位置，且無需擔(dān)心器件長度超過測量長度。

采樣分辨率：1um；空間分辨率: <40μm

雜散噪聲: －100dB

使用OFDR原理的反射儀，用戶經(jīng)常會在沒有實(shí)際反射的區(qū)域中觀察到波形（此類波形被稱為雜散噪聲或鬼影）。此時(shí)工程師們需借助可靠高效的專業(yè)設(shè)備才能在波形分析中排除干擾，而AQ7420能顯著降低此類雜散噪聲，使波形分析更為便捷。

多次反射和插入損耗的同時(shí)測量

OFDR型反射儀經(jīng)常會使用戶陷入背向反射值測量不準(zhǔn)確的尷尬處境。但在橫河AQ7420與光功率探頭AQ740023的強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合下，這一難題將不復(fù)存在，它可以同時(shí)測量連接器的回波損耗和插入損耗，并將不確定度控制在±0.02dB以內(nèi)。

圖3：光接收模塊測試圖暨低雜散噪聲展示圖

用戶可在圖3的基礎(chǔ)上結(jié)合可選的光功率探頭，同時(shí)測量插入損耗，不斷豐富AQ7420的功能，使其成為檢測光連接器和光模塊的理想儀器。

AQ7420的適用場景

研發(fā)、制造光連接器、光模塊的企業(yè)

在可視化光學(xué)連接器制造過程中，使用AQ7420能有效避免測試中所出現(xiàn)的微裂紋和產(chǎn)品缺陷，確保產(chǎn)品質(zhì)量。

從事前沿硅基光子學(xué)和光學(xué)元件研究的單位

AQ7420可通過精確測量硅光器件中的反射位置和反射值，識別測試異常區(qū)域，以此促進(jìn)研究。

從事光學(xué)元件研發(fā)和制造的單位

AQ7420可通過測量內(nèi)部光學(xué)元件（如透鏡、濾光片和芯片）之間的距離及其在光收發(fā)器、TOSA、ROSA、BOSA、光纖激光器等中的反射率檢測到測試異常。

研究或使用各種光波導(dǎo)的公司

AQ7420可通過測量波導(dǎo)和光纖耦合部分的反射率和反射點(diǎn)之間的距離，確認(rèn)組件是否有任何異常。

綜上，橫河新品AQ7420型高分辨率反射儀是一款可以有效幫助光器件研發(fā)工程師實(shí)現(xiàn)可視化內(nèi)部結(jié)構(gòu)、解決微觀缺陷、進(jìn)行失效分析、改善設(shè)計(jì)方案和工藝細(xì)節(jié)的測試設(shè)備，相信它一定會成為您的最佳助手，趕快體驗(yàn)吧！