"質(zhì)量與可靠性標(biāo)準(zhǔn)幫助我們贏得了新的汽車業(yè)務(wù)，而NI VeriStand在此過程中扮演著至關(guān)重要的角色。"
- Jason G. Bauman, Lear Corporation 
挑戰(zhàn):
在我們的嵌入式電子產(chǎn)品復(fù)雜程度日益增加的情況下，保持質(zhì)量和可靠性標(biāo)準(zhǔn)，并實(shí)現(xiàn)預(yù)算和既定目標(biāo)。

解決方案:
采用基于NI VeriStand的實(shí)時(shí)測(cè)試軟件和PXI硬件的新的硬件在環(huán)(HIL)測(cè)試平臺(tái)，具有很好的靈活性，高效性和直觀性，完全能滿足我們當(dāng)前的需要，而且對(duì)于將來繼續(xù)擴(kuò)展的產(chǎn)品，也能很好的支持。

作者:
Jason G. Bauman - Lear Corporation 
Darryn LaZar - Wineman Technology Inc.

李爾公司的電子部門為汽車應(yīng)用設(shè)計(jì)和制造嵌入式控制電子器件，包括內(nèi)部外部照明控制，電源管理系統(tǒng)，鎖定控制，以及輪胎氣壓監(jiān)控系統(tǒng)。嵌入式軟件是這些產(chǎn)品的主要組成部分，這些軟件的功能和復(fù)雜性成指數(shù)增長(zhǎng)。我們廣泛地使用硬件在環(huán) (HIL)測(cè)試，因?yàn)樗试S我們有效地提高測(cè)試能力，增加測(cè)試覆蓋范圍，以應(yīng)對(duì)這些增加的復(fù)雜性。然而，我們目前的硬件在環(huán)(HIL)測(cè)試平臺(tái)并不能提供穩(wěn)定性，易用性，以及靈活性兼顧的方案以實(shí)現(xiàn)我們期待的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

NI VeriStand的實(shí)時(shí)激勵(lì)框架（Stimulus Profiles）

在研究了可選的方案后，很明顯，NI HIL測(cè)試平臺(tái)所提供的先進(jìn)方法可以滿足我們當(dāng)前和將來的挑戰(zhàn)。我們之所以使用NI VeriStand實(shí)時(shí)測(cè)試軟件來完成HIL測(cè)試應(yīng)用，是因?yàn)樗峁┝硕喾N強(qiáng)有力的、基于配置的特性，包括實(shí)時(shí)I/O接口，可觸發(fā)的數(shù)據(jù)記錄，一個(gè)運(yùn)行時(shí)可編輯用戶界面，以及對(duì)系統(tǒng)模型的易集成性。不過，使用NI VeriStand最大的好處是它的實(shí)時(shí)測(cè)試自動(dòng)化能力。

NI VeriStand提供了幾種方法來創(chuàng)建我們的測(cè)試策略所要求的復(fù)雜的激勵(lì)框架。VeriStand提供的這些工具非常容易上手，允許我們的測(cè)試工程師迅速地執(zhí)行測(cè)試程序，并縮短學(xué)習(xí)掌握的時(shí)間。實(shí)時(shí)激勵(lì)框架這個(gè)工具按照測(cè)試工程師的思路來運(yùn)行，在使用時(shí)并不要求具有額外的程序設(shè)計(jì)語(yǔ)言知識(shí)。正因如此我們的工程師可以專注于他們的工作——識(shí)別潛在的模塊失效——這些失效會(huì)導(dǎo)致更多的問題，并加以識(shí)別和解決。此外，環(huán)境的開放性允許我們使用其它工具包創(chuàng)建的測(cè)試腳本來快速地增加它的功能，從而給了我們很大的自由，可以使用來自其它多個(gè)渠道的測(cè)試腳本。

當(dāng)我們使用測(cè)試自動(dòng)化執(zhí)行大部分測(cè)試應(yīng)用時(shí)，NI VeriStand也允許我們很方便地通過測(cè)試實(shí)例手動(dòng)地逐步進(jìn)行，這對(duì)于調(diào)試所發(fā)現(xiàn)的問題來說，無(wú)疑是極為有用的。我們可以從自動(dòng)化的測(cè)試快速地轉(zhuǎn)換為交互式的根本原因分析。通過切換到與我們的嵌入式軟件調(diào)試工具串聯(lián)，我們可以通過測(cè)試腳本和嵌入式軟件代碼同時(shí)執(zhí)行逐步調(diào)試，來更有效地識(shí)別和解決問題。
使用NI RIO創(chuàng)建多用途測(cè)試系統(tǒng)

此外，只需改變測(cè)試軟件和接線，我們就可以創(chuàng)建能用于測(cè)試多種產(chǎn)品的HIL測(cè)試系統(tǒng)，，因?yàn)槲覀優(yōu)槟M和數(shù)字I/O通道使用基于現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)的NI可配置I/O (RIO)接口。這種能力使擴(kuò)大測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用范圍和增加測(cè)試量成為可能。

高性能車載總線接口

同樣的，我們使用NI-XNET車載總線卡，為車載總線提供高性能的接口，具有使用和更改車載總線數(shù)據(jù)庫(kù)文件來快速配置和更新車載網(wǎng)絡(luò)的能力。NI-XNET與NI VeriStand的開放性相結(jié)合，也允許我們更容易地執(zhí)行自己的協(xié)議層。

HIL測(cè)試系統(tǒng)定制

為了使用不同的NI-RIO FPGA特性，自定義協(xié)議層，以及其它NI VeriStand改進(jìn)，我們與Wineman Technologies公司開展合作。Wineman Technologies是美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（NI）的區(qū)域集成商，它在HIL測(cè)試系統(tǒng)的開發(fā)以及NI軟硬件工具方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)。通過及時(shí)的溝通和專業(yè)的支持，他們幫助我們快速的改進(jìn)了新的HIL測(cè)試系統(tǒng)，以確保我們成功更新產(chǎn)品開發(fā)中的關(guān)鍵部件。

未來展望

我們決定使用NI HIL測(cè)試平臺(tái)的主要因素是其開放的硬件和軟件環(huán)境。當(dāng)我們的HIL測(cè)試系統(tǒng)需求拓展到無(wú)線和高壓應(yīng)用時(shí)，這種開放式的結(jié)構(gòu)已經(jīng)在提供我們預(yù)期的優(yōu)勢(shì)。我們當(dāng)前正在增加高壓負(fù)載和電源支持來幫助對(duì)我們的混合充電器生產(chǎn)線執(zhí)行更廣泛的測(cè)試。我們也在為HIL測(cè)試系統(tǒng)增加RF發(fā)射和接收能力，使用一個(gè)單獨(dú)的系統(tǒng)來模擬我們的產(chǎn)品將要與之接口的、完備的各種各樣的裝置以及嵌入更多詳細(xì)的RF信號(hào)和協(xié)議缺陷。開放的NI HIL平臺(tái)軟硬件工具使快速有效地?cái)U(kuò)展這些系統(tǒng)成為可能，利用第三方硬件部件以及在NI開發(fā)社區(qū)中可得到的大量可用的軟件附加工具。

對(duì)我們業(yè)務(wù)的影響

我們已經(jīng)連續(xù)運(yùn)行NI VeriStand和基于PXI的HIL系統(tǒng)超過一年而沒有出現(xiàn)任何檢測(cè)故障。如此高的穩(wěn)定性以及使用NI VeriStand和NI硬件產(chǎn)品所實(shí)現(xiàn)的高效收益使得我們的團(tuán)隊(duì)在開發(fā)的初期就能檢測(cè)出更多的問題并快速解決，從而減少了我們的保修問題，降低了返修率。