全面RTL DFT流程，加上新思科技Fusion Design Platform™，確保最快上市時(shí)間與最佳設(shè)計(jì)功耗、性能與面積

先進(jìn)的汽車(chē)功能安全支持包括軟錯(cuò)誤分析和X-tolerant邏輯BIST，以符合ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)要求

通過(guò)功能用途高速接口進(jìn)行的測(cè)試帶來(lái)了前所未有的測(cè)試帶寬與便攜性



新思科技(Synopsys, Inc.，納斯達(dá)克股票市場(chǎng)代碼：SNPS)近日宣布，TestMAX™系列產(chǎn)品上市，其創(chuàng)新的測(cè)試與診斷功能適用于半導(dǎo)體器件的所有數(shù)字、存儲(chǔ)和模擬部分。

新思科技TestMAX系列包括用于汽車(chē)測(cè)試和功能安全的獨(dú)特功能及技術(shù)，利用設(shè)計(jì)中常見(jiàn)的高速接口，實(shí)現(xiàn)全新級(jí)別的測(cè)試帶寬和效率。功能強(qiáng)大、可高度配置的測(cè)試自動(dòng)化流程提供新思科技TestMAX所有功能的無(wú)縫集成。全面RTL集成支持復(fù)雜DFT邏輯的早期驗(yàn)證，并且與新思科技Fusion Design Platform™的直接鏈接保證了對(duì)物理、時(shí)序和功耗的關(guān)注。這些新功能，加上早期可測(cè)試性分析與規(guī)劃、層次化ATPG壓縮、物理感知診斷、BIST、存儲(chǔ)自測(cè)試與修復(fù)以及模擬故障仿真等綜合支持，確保新思科技TestMAX產(chǎn)品系列在解決重要測(cè)試問(wèn)題的同時(shí)實(shí)現(xiàn)今后高要求應(yīng)用的有效測(cè)試。

人工智能和汽車(chē)等快速發(fā)展的新應(yīng)用增加了設(shè)計(jì)規(guī)模與復(fù)雜性。這些不斷發(fā)展的細(xì)分市場(chǎng)需要前所未有的高質(zhì)量和長(zhǎng)期可靠性。獨(dú)特的TestMAX軟錯(cuò)誤分析計(jì)算ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，從而識(shí)別與解決設(shè)計(jì)周期早期發(fā)現(xiàn)的潛在問(wèn)題，并引導(dǎo)有效的設(shè)計(jì)變動(dòng)。

滿足強(qiáng)制功能安全級(jí)別的需求讓先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試的重要性與集成必要性發(fā)生了重大改變。通常一旦車(chē)輛啟動(dòng)并運(yùn)行，器件就必須實(shí)施自測(cè)試機(jī)制。邏輯Logic BIST通常用于檢查器件邏輯中的安全故障，但無(wú)法容忍未知的電路狀態(tài)，如那些源自設(shè)計(jì)定案后時(shí)序異常引發(fā)的情況。

新思科技TestMAX推出了業(yè)界首個(gè)X-tolerant邏輯BIST解決方案，該解決方案可以在未知狀況下運(yùn)作，并且與競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的邏輯BIST解決方案相比，創(chuàng)新的reseeding技術(shù)在更短的時(shí)間里顯著提升了故障覆蓋率。新思科技 TestMAX提供了片上基礎(chǔ)架構(gòu)，用于車(chē)輛啟動(dòng)或運(yùn)行期間定期運(yùn)行X-tolerant邏輯BIST。

“我們用戶的設(shè)計(jì)越來(lái)越多地用于汽車(chē)應(yīng)用。新思科技 TestMAX X-tolerant邏輯BIST解決方案能夠在最不影響設(shè)計(jì)的情況下，幫助用戶實(shí)現(xiàn)他們宏偉的測(cè)試時(shí)間和覆蓋率自測(cè)試目標(biāo)。”

JY Choi  三星電子代工廠設(shè)計(jì)技術(shù)團(tuán)隊(duì)  副總裁

隨著設(shè)計(jì)規(guī)模不斷增長(zhǎng)，管理制造測(cè)試時(shí)間已經(jīng)愈發(fā)困難。由于測(cè)試探針和相關(guān)時(shí)鐘頻率的有限增長(zhǎng)，測(cè)試應(yīng)用帶寬通常不升級(jí)。新思科技TestMAX利用高速功能接口，例如當(dāng)今大部分器件上存在的USB和PCI Express，帶來(lái)了突破性的解決方案。新思科技TestMAX通過(guò)這些功能接口中的一個(gè)或多個(gè)應(yīng)用到所有的制造測(cè)試上，帶來(lái)幾乎不受限制的測(cè)試帶寬，并且減少(如果無(wú)法消除0專(zhuān)有測(cè)試探針的開(kāi)支。由于使用了功能接口，所有的測(cè)試變得完全便攜式，可以用于產(chǎn)品生命周期中的各個(gè)階段。

“由于多項(xiàng)技術(shù)與市場(chǎng)趨勢(shì)帶來(lái)的綜合影響，我們的用戶正面臨新的測(cè)試挑戰(zhàn)。通過(guò)新思科技TestMAX系列產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)的創(chuàng)新已經(jīng)為許多設(shè)計(jì)公司帶來(lái)關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)。我們致力于不斷完善解決方案，以滿足他們的未來(lái)需求。”

Steve Pateras  新思科技芯片設(shè)計(jì)事業(yè)部  高級(jí)營(yíng)銷(xiāo)總監(jiān)